Dielectric screening in van der Waals materials probed through Raman spectroscopy
Loïc Moczko  1, @  , Aditya Singh  2  , Xin Zhang  3  , Luis E. Parra López  3  , Joanna Wolff  1  , Etienne Lorchat  4  , Michelangelo Romeo  3  , Rajendra Singh  2  , Takashi Taniguchi  5  , Kenji Watanabe  5  , Sven Reichardt  6  , Ludger Wirtz  6  , Stéphane Berciaud  7  
1 : Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Université de Strasbourg, CNRS
2 : Indian Institute of Technology, New Delhi
3 : Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Université de Strasbourg, CNRS
4 : Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Université de Strasbourg, CNRS
5 : National Institute for Materials Science
6 : Physics and Materials Science Research Unit, Luxembourg
7 : Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Université de Strasbourg, CNRS
Type : : Présentation orale
Thématiques : VdW optics
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